鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀配置變溫鐵電測(cè)試盒

產(chǎn)品型號(hào)：HCTD—800

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-09-14

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀配置變溫鐵電測(cè)試盒

一、鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀組成部分：

鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開(kāi)關(guān)特性，可測(cè)出具有非對(duì)稱(chēng)電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測(cè)鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。

二、主要用途：

鐵電材料的電滯回線（動(dòng)態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。

測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)。

超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性。

三、鐵電薄膜測(cè)試儀軟件功能：

HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備穩(wěn)定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。

友善的使用界面

多語(yǔ)界面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；

即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)需等待；

圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了解測(cè)試狀態(tài)；

使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀配置變溫鐵電測(cè)試盒

鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀配置變溫鐵電測(cè)試盒

鐵電薄膜材料試驗(yàn)儀配置變溫鐵電測(cè)試盒